SEC Video Library, その他
　 Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method

第５回 実用表面分析国際シンポジウム, PSA-10,（ポスター講演者のための１分間 ショートプレゼンテーション ）
P-001 摂南大学 大学院 工学研究科 表面物性工学研究室 修士課程２年 宮川拓也，　
（2010.10.03-07，ホテル現代 慶州，韓国）（撮影に失敗し，残念ながら 8秒だけ。）

学習支援センター（寝屋川） ＞ SEC Video Libray ＞ その他

5th International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-10, 2010.10.03-07, Hotel Hyundai, Geongju, Korea
" P-001 Measurement of Secondary Electron Yield by Charge Amplification Method "
T. MIYAGAWA*, M. INOUE, T. Iyasu, Y. Hashimoto, K. Goto, R. Shimizu, and T. Nagatomi


Poster No.P-001 presented by Takuya MIYAGAWA (M2) 		　
講演会場の様子。もう一部屋あってパラレルセッションでした。 		　
１分間ショートプレゼンの様子(M2 宮川氏)

Related link to SST_LAB　　　 講演要旨（PDF）　 abst A0 ポスター（PDF） abst　

学習支援センタートップページへ戻る
Copyright © 2012-2024 Electrical and Electronic Engineering, Setsunan University, All rights reserved.