Development of C60 Cluster Ion Gun, Oxygen Effects on the Ion-induced Secondary Electron Spectra

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　 Development of C₆₀ Cluster Ion Gun / Oxygen Effect on the Ion-induced Secondary Electron Spectra

第４回実用表面分析国際シンポジウム, PSA-07,（ポスター講演者のための１分間ショートプレゼンテーション２件）
P-41 摂南大学大学院工学研究科表面物性工学研究室修士課程２年入江優
P-42 摂南大学大学院工学研究科表面物性工学研究室修士課程１年井上公介，　（2007.11.25-28，石川県立音楽堂，金沢）（1分34秒）

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4^th International Symposium on Practical Surface Analysis, PSA-07, 2007.11.25-28, Kanazawa

" P-41 Development of C₆₀ Cluster Ion Gun with Rotating Field Mas Filter "
Suguru IRIE^*, Tomoyuki Arima, and Masahiko INOUE

" P-42 Oxygen Effects on the Secondary Electron Emission from Si Surface Induced by Low Energy He⁺ and Xe⁺ Ions "
Kousuke INOUE^*, Shinji TEMMA, and Masahiko INOUE

Poster No.P-41 presented by Suguru IRIE

講演要旨（PDF）
　
Poster No.P-42 presented by Kousuke INOUE

講演要旨（PDF）

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